1. CMOS Test and Evaluation
پدیدآورنده : / Manjul Bhushan, Mark B. Ketchen
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : INSTRUMENTATION& ELECTRONIC|ENGINEERING, MULTIDISCIPLINARY|INSTRUMENTS & CONTROL SYSTEMS|ENGINEERING, ELECTRICAL &AUTOMATION
رده :
E-BOOK
2. Microelectronic Test Structures for CMOS Technology
پدیدآورنده : / Manjul Bhushan, Mark B. Ketchen
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : INSTRUMENTATION& ELECTRONIC|ENGINEERING, MULTIDISCIPLINARY|INSTRUMENTS &ENGINEERING, CIVIL|ENGINEERING, ELECTRICAL
رده :
E-BOOK
3. Microelectronic Test Structures for CMOS Technology
پدیدآورنده : / Manjul Bhushan, Mark B. Ketchen (auth.)
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : ENGINEERING (uncategorised)
رده :
E-BOOK
4. Microelectronic test structures for CMOS technolog
پدیدآورنده : / Manjul Bhushan, Mark B. Ketchen
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : Metal oxide semiconductors, Complementary, Testing,Electronic books., local
رده :
TK7871
.
99
.
M44
,
B48
2011
5. Microelectronic test structures for CMOS technology
پدیدآورنده : Bhushan, Manjul.,Manjul Bhushan, Mark B. Ketchen
کتابخانه: كتابخانه و مركز اسناد دانشگاه كردستان (کردستان)
موضوع :
6. Microelectronic test structures for CMOS technology
پدیدآورنده : / Manjul Bhushan, Mark B. Ketchen
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد و انتشارات دانشگاه تبریز (آذربایجان شرقی)
موضوع : Metal oxide semiconductors, Complementary--Testing
رده :
TK7871
.
99
.
M44B49
2011